nanoscope
analysis是一款相當不錯的分析工程模型的工具，該軟件可以將光學圖像AFM放到軟件上執(zhí)行數(shù)據(jù)研究，內(nèi)置十九種分析方案，包括二維分析、三維分析、粒子分析、有圖案的樣本分析、電化學SPM分析，可以幫助用戶在研究光學數(shù)據(jù)的時候提供更加清晰的數(shù)據(jù)分析方案;歡迎大家下載使用哦。
功能介紹：
分析功能
分析函數(shù)關系到分析在實時模式中捕獲的圖像的表面行為。這些命令稱為圖像處理或分析命令。這些命令包含用于分析、修改和存儲收集到的數(shù)據(jù)的視圖、選項和配置。分析可以是自動化的(也可以是自動程序)或者手工完成。一般來說，分析命令提供了量化樣品表面特性的方法
二維圖像
二維圖像分析以二維的角度顯示所選圖像的顏色編碼高度信息。二維圖像分析是對納米范圍分析的默認分析，當圖像最初被打開時，它總是在二維圖像中呈現(xiàn)。
軸承的分析
軸承分析提供了一種繪制和分析樣品表面高度分布的方法。軸承分析可應用于整個圖像，或對圖像的選定區(qū)域，使用橡膠帶箱。此外，選擇區(qū)域內(nèi)的區(qū)域可以通過使用“停止帶”來移除分析中的多余數(shù)據(jù)。
深度
為了分析特征的深度，你有眾多的選擇來測量不同高度的兩個主要特征之間的高度差。深度分析主要是為自動比較兩個相似的樣本站點的特征深度而設計的(例如，在分析大量相同硅晶片的腐蝕深度時)。
金山打字通
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六界仙尊
開心消消樂
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